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IAR C-RUN

IAR 平台产品

C-RUN 动态代码分析（适用于 IAR Embedded Workbench 和选定的 IAR 构建工具）可在应用程序运行时检测代码中的错误。

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关键优势

C-RUN 可增强 CI/CD 自动化、现场测试和运行时错误检测，实现高效调试并识别静态分析遗漏的错误，确保嵌入式软件的可靠性。

  • 精确的动态代码分析
  • 针对现场测试进行了优化
  • 为 CI/CD 工作流程做好自动化准备
develper with mutlipe screens writting and debugging code

精确的动态代码分析

检测实际运行错误，包括硬件依赖性和运行环境特定问题，识别静态代码分析在嵌入式应用程序部署前可能忽略的错误。

two developers analyzing code or results

针对现场测试进行了优化

配置 C-RUN，通过自定义通信通道重新路由原始报文，以便在直接调试访问不可用或不切实际的现实情况下进行事后分析。

IAR IDE and VS Code efficiency flexibility female developer

为 CI/CD 工作流程做好自动化准备

在批处理模式下使用 IAR C-SPY 调试器轻松将 C-RUN 集成到自动化测试中，应用预定义的规则和设置，同时将输出重定向到日志或外部报告工具。

特点

C-RUN 提供动态代码分析、堆完整性验证和详细的错误报告，确保嵌入式应用程序中的代码稳健可靠。

集成于 IAR Embedded Workbench

C-RUN 完全集成到与 IAR Embedded Workbench 和 IAR 构建工具中，只需最少的设置即可顺利使用。它可确保高效的运行时代码分析和调试，无缝融入嵌入式开发和自动测试的现有工作流程。

灵活的运行时错误检查

C-RUN 可检测应用程序代码或取替换 C/C++ 库进行运行时错误检查，以适应不同的应用程序类型和环境。它同时支持 C 和 C++，确保全面的运行时验证。

全面的错误检测

C-RUN 可检测算术错误、指针访问越界和堆内存问题，防止运行时故障。它能识别整数溢出、无效内存访问、堆双重释放操作和泄漏的堆块，从而提高应用程序的稳定性。

详细的错误报告和调试

为每个错误提供调用堆栈信息、代码关联和图形反馈。错误规则管理允许在项目、文件或代码级别执行控制、记录或忽略错误。用户可以加载和保存过滤器设置。

Supademo screen

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探索 IAR 开发平台的各项功能。

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支持的架构

  Arm Renesas RX
C-RUN checked checked

支持的芯片

Architecture Manufacturer Family Device
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常见问题解答

哪些版本的 IAR Embedded Workbench 支持 C-RUN？
支持的版本：IAR Embedded Workbench for Arm 7.20 版本及以上；IAR Embedded Workbench for RX 3.10 版本及以上，请注意 12KB 代码大小受限的 C-RUN 可在 14 天的 EWARM 和 EWRX 免费评估版本内进行试用。

IAR C-RUN 能检测哪些错误？
IAR C-RUN 可识别运行时问题，例如栈溢出、除零错误、内存泄漏和越界访问。

IAR C-RUN 与 C-STAT 有何不同？
C-STAT 通过静态代码分析在执行之前检测潜在问题，而 C-RUN 则在代码执行过程中监控，捕捉实时错误。

IAR C-RUN 可以在资源受限的嵌入式系统上使用吗？
可以，IAR C-RUN 针对嵌入式应用进行了优化，能够以最小的性能开销高效地检测运行时错误。

访问所有功能

利用我们的解决方案，您可以自由灵活地扩展开发操作，通过确保代码质量，加速创新进程，并在加强安全性的同时简化合规性。

  • 广泛的架构和芯片支持

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  • 始终包含功能安全

通过我们的平台，您可以访问所有功能。


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